1.原子吸光光度計

メーカー・型式：島津製作所　AA7000・GFA7000A・ASC7000

フレーム測定・フレームレス測定（オートサンプラー機能付き）

2.赤外分光光度計

メーカー・型式：ThermoFisher　赤外顕微FT-IR（Nicolet in10・is10FT-IR）

有機物の組成解析・成分定性・成分定量（無機物も可）

3.示差熱天秤

メーカー・型式：(株)リガク　Thermo plus EV02 (TG-DTA)

試料の熱的挙動とTG-DTA曲線の変化（熱分解・燃焼・酸化・還元等）
雰囲気（Air・Ar・N）　オートサンプラー（24件）

4.粒度分布計

メーカー・型式：マイクロトラック・ベル　Microtrac MT3000Ⅱ（0.02～2800μｍ）

レーザ回折・散乱法により粉体の粒度分布を測定（湿式・乾式）（水・有機溶媒使用可）

5.多検体比表面積/細孔分布測定装置

メーカー・形式：島津製作所　3Flex

ゼオライト・活性炭・MOF・PCP等々、微粒子のマイクロポア細孔分布測定可能
（3サンプル同時測定可能）

6.炭素/硫黄分析装置

メーカー・型式：堀場製作所　C/S ANALYZER―EMIA810

試料中の炭素・硫黄の含有量測定が短時間で出来る。

7.走査電子顕微鏡（Ⅹ線定量装置付）

メーカー・型式：日本電子(株)　JSM－7001F（走査電子顕微鏡）　オックスフォード（株）　元素分析装置（EDS）/（WDS）

• 分解能：1.2nm(加速電圧30kv)　2nm（加速電圧1kv)
• 倍率：×10～×1000000
• 画像：二次電子像　/　反射電子像　/　UED像（試料表面組成像）
• 元素分析：エネルギー分散型Ⅹ線分析装置　/（EDS）波長分散型Ⅹ線分析装置（WDS）
• 検出可能元素：Be～U

8.蛍光Ⅹ線装置

メーカー・型式：(株)リガク　ZSX－PrimusⅡ（波長分散型）（オートサンプラー付）

• 測定可能元素：B～U
• 測定方法：検量線法　/　FP法
• 試料形状：ガラスビード　/　粉末ブリケット

9.Ⅹ線回折装置

メーカー・型式：（株）リガク　RINT UltimaⅢ

• 測定方法：集中法（半導体検出器）・平行法（SC検出器
• 試料形状：粉末　/ 固体　試料中の結晶相同定、リートベルト法による結晶相の簡易定量

10.熱膨張率測定装置

メーカー・型式：ネッチジャパン(株)　DIL 402C

• 測定条件：温度範囲　常温～1600℃
• 雰囲気：大気　/　還元雰囲気（N,Ar）
• 試料ホルダー：アルミナ製　/　グラファイト製
• 測定範囲：±2.5㎜
• 試料形状：□5～10㎜or〇3～12㎜　/　L25.00㎜±1.0㎜or　L50.00㎜±1.0㎜